Spettrofotometria di fluorescenza ai raggi X (XRF)

Tipo di indagine Analisi qualitativa e quantitativa su campione o su manufatto non trasportabile (strumentazione portatile)
Riconoscimento degli elementi chimici con numero atomico superiore a 5
Campo di applicazione Elementi costitutivi di pigmenti, preparazioni, inquinanti atmosferici, prodotti di corrosione, composti inorganici
Oggetto d'indagine Campione in polvere; porzione di superficie del manufatto
Metodica Registrazione della lunghezza d'onda e dell'intensità della radiazione di fluorescenza emessa dall'oggetto sottoposto a raggi X; corrispondenza con il tipo di elementi costitutivi e la loro concentrazione
Campionamento 100 mg di materia; pochi cm2 di superficie
Informazioni ricavabili Individuazione degli elementi presenti in un campione di materia
Sensibilità Proporzionale alla grandezza del numero atomico degli elementi
Vantaggi/svantaggi Possibilità di analisi su oggetti non trasportabili; possibili sovrapposizioni tra i picchi di fluorescenza; interferenze dovute alla penetrazione tra gli strati della materia in analisi
Lettura dati Grafico corrispondente alla misurazione dei picchi emessi dagli elementi; confronto con tabelle di energie corrispondenti; uso di programmi informatizzati per la gestione dell'analisi
Tecniche analitiche associate Microscopia elettronica a scansione (S.E.M.); microanalisi elettronica (E.D.S.)
Costi Medio alti